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安捷倫將在京滬深港四地舉辦芯片測(cè)試新技術(shù)研討會(huì)

　　安捷倫科技(Agilent Technologies)日前宣布，該公司將于9月8日、10日、13日和14日分別在北京、上海、香港和深圳四地舉辦芯片測(cè)試新技術(shù)研討會(huì)(Agilent SOC Test Symposium )。

　　據(jù)悉，安捷倫的資深技術(shù)工程師屆時(shí)將在研討會(huì)上就多個(gè)主題展開(kāi)演講，其中在北京、上海和深圳三地的主題包括：《系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試的下一領(lǐng)域》、《更高性能，更低成本：混合信號(hào)測(cè)試的下一領(lǐng)域》、《DOCSIS 2.0和HDTV測(cè)試挑戰(zhàn)》、《COT & Test Reduction》、《ACLR測(cè)量》、《高速測(cè)試的下一領(lǐng)域》等；而香港站的研討會(huì)則包含上述部分主題。

　　安捷倫表示，混合信號(hào)與高速儼然已成為科技發(fā)展市場(chǎng)的主流。在電子消費(fèi)領(lǐng)域，為實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的音頻、視頻、基帶I/Q ADC和DAC，業(yè)界面臨全新的混合信號(hào)測(cè)試挑戰(zhàn)。市場(chǎng)價(jià)格競(jìng)爭(zhēng)也日益激烈，應(yīng)此需求，安捷倫AV8集混合信號(hào)八大功能于一身的加強(qiáng)版，可大大增強(qiáng)測(cè)試靈活性，并協(xié)助降低投資。

　　而在高速測(cè)試方面，安捷倫繼2003年推出PCI Express測(cè)試解決方案——NP2500，協(xié)助客戶(hù)開(kāi)發(fā)及驗(yàn)證程序，更上一層樓推出了降低測(cè)試成本兼錯(cuò)誤涵蓋率(Fault Coverage)的BIST Assist 6.4。

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